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晶片测试范围与标准有哪些

产品时间: 2023-12-12 10:23:27

简要描述:

晶片测试范围与标准有哪些报告如何办理?百检网第三方检测机构可为客户提供报告与认证质检办理服务,百检网拥有众多合作实验室,出具报告与认证真实有效,涵盖CNAS、CMA、CAL等。为您提供相关行业检测服务...

详细介绍

晶片测试范围与标准有哪些报告如何办理?百检网第三方检测机构可为客户提供报告与认证质检办理服务,百检网拥有众多合作实验室,出具报告与认证真实有效,涵盖CNAS、CMA、CAL等。为您提供相关行业检测服务

检测费用:根据客户需求及实验复杂程度报价

样品大小:根据样品大小选择寄样或上门

检测周期:3-15个工作日(可加急)

报告资质:CNAS、CMA、CAL等

晶片测试范围与标准有哪些范围:

单晶片,硅晶片,纳米微针晶片,石英晶片,雾化器晶片,碳化硅晶片,led晶片,半导体晶片,砷化镓晶片等。

具体检测范围请咨询百检客服

晶片测试范围与标准有哪些标准:

GB/T5238-2019锗单晶和锗单晶片

GB/T13387-2009硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法

GB/T16595-2019晶片通用网格规范

GB/T16596-2019确定晶片坐标系规范

GB/T25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量X射线光电子能谱法

GB/T26066-2010硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法

GB/T26070-2010化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法

GB/T26071-2018太阳能电池用硅单晶片

GB/T30118-2013声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法

GB/T30866-2014碳化硅单晶片直径测试方法

GB/T30867-2014碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法

GB/T30868-2014碳化硅单晶片微管密度的测定化学腐蚀法

GB/T32278-2015碳化硅单晶片平整度测试方法

GB/T32988-2016人造石英光学低通滤波器晶片

GB/T34481-2017低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法

具体检测标准请咨询百检客服

检测报告作用:

1、项目招投标:出具权威的第三方CMA/CNAS资质报告;

2、上线电商平台入驻:质检报告各大电商平台认可;

3、用作销售报告:出具具有法律效应的检测报告,让消费者更放心;

4、论文及科研:提供专业的个性化检测需求;

5、司法服务:提供科学、公正、准确的检测数据;

6、工业问题诊断:验证工业生产环节问题排查和修正;

检测流程

1、寄样

2、核对需求

3、针对性报价

4、双方确定,签订合同,开始实验

5、完成实验:检测周期(可加急)会根据样品及其检测项目/方法会有所变动,可咨询工程师

6、出具检测报告,后期服务。

 


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