硅片测试报告范围及标准检测报告如何办理?百检网第三方检测机构可为客户提供报告与认证质检办理服务，百检网拥有众多合作实验室，出具报告与认证真实有效，涵盖CNAS、CMA、CAL等。为您提供相关行业检测服务
硅片测试报告范围及标准检测范围:
单晶硅片，太阳能硅片，光伏硅片，半导体硅片，切割硅片，镀膜硅片，清洗硅片，抛光硅片等。
具体检测范围请咨询百检客服
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检测周期:3-15个工作日(可加急)
报告资质：CNAS、CMA、CAL等
检测费用：根据客户需求及实验复杂程度报价
样品大小：根据样品大小选择寄样或上门
硅片测试报告范围及标准检测标准:
GB/T29055-2019太阳能电池用多晶硅片
GB/T26068-2018硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法
GB/T37051-2018太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
GB/T32814-2016硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范
GB/T24578-2015硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
GB/T32280-2015硅片翘曲度测试自动非接触扫描法
GB/T32281-2015太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法
GB/T30859-2014太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法
GB/T30860-2014太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
GB/T30869-2014太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化 测试方法
GB/T30701-2014表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定
GB/T29505-2013硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
GB/T29507-2013硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法
GB/T6616-2009半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
GB/T6617-2009硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
GB/T6618-2009硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T6619-2009硅片弯曲度测试方法
具体的检测标准请咨询百检客服
百检检测是专业第三方检测机构,提供相关成分试验检测等.周期短,价格优,出具国家认证资质报告
检测流程步骤
1、电话沟通、确认需求；
2、推荐方案、确认报价；
3、邮寄样品、安排检测；
4、进度跟踪、结果反馈；
5、出具报告、售后服务；
6、如需加急、优先处理；
