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集成电路测试报告范围标准有哪些内容

时间:2023-08-04 11:23:34
 

集成电路测试报告范围标准报告如何办理?百检网第三方检测机构可为客户提供报告与认证质检办理服务,百检网拥有众多合作实验室,出具报告与认证真实有效,涵盖CNAS、CMA、CAL等。为您提供相关行业检测服务

集成电路测试报告范围标准范围:

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检测周期:3-15个工作日(可加急)

报告资质:CNAS、CMA、CAL等

集成电路测试报告范围标准标准:

GB/T2900.66-2004电工术语半导体器件和集成电路

GB/T3430-1989半导体集成电路型号命名方法

GB/T3431.2-1986半导体集成电路文字符号引出端功能符号

GB/T3436-1996半导体集成电路运算放大器系列和品种

GB/T4023-2015半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管

GB/T4376-1994半导体集成电路电压调整器系列和品种

GB/T4377-2018半导体集成电路电压调整器测试方法

GB/T4587-1994半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

GB/T4589.1-2006半导体器件第10部分:分立器件和集成电路总规范

GB/T6798-1996半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

GB/T9178-1988集成电路术语

GB/T12842-1991膜集成电路和混合膜集成电路术语

GB/T14028-2018半导体集成电路模拟开关测试方法

GB/T14029-1992半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理

GB/T14030-1992半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

GB/T14031-1992半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

GB/T14113-1993半导体集成电路封装术语

GB/T14619-2013厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T14620-2013薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T14862-1993半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法

GB/T15136-1994半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理

GB/T15651.2-2003半导体分立器件和集成电路第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性

具体的检测标准请咨询百检客服

检测检测特点:

1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;

2、实验室全覆盖,就近分配本地化检测;

3、工程师一对一服务,让检测更精准

4、免费初检,初检不收取检测费用

5、自助下单快递免费上门取样;

6、周期短,费用低,服务周到;

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;

8、检测报告权威有效、国内通用;

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