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硅片测试报告范围标准有哪些内容

时间:2023-08-14 10:43:27
 

硅片测试报告范围标准报告如何办理?百检网第三方检测机构可为客户提供报告与认证质检办理服务,百检网拥有众多合作实验室,出具报告与认证真实有效,涵盖CNAS、CMA、CAL等。为您提供相关行业检测服务

硅片测试报告范围标准范围:

单晶硅片,太阳能硅片,光伏硅片,半导体硅片,切割硅片,镀膜硅片,清洗硅片,抛光硅片等。

具体检测范围请咨询百检客服

百检网是一家综合性检测服务平台,汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质检测机构遍布全国各地,更多检测需求请联系:18601756433咨询百检相关客服。

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检测周期:3-15个工作日(可加急)

报告资质:CNAS、CMA、CAL等

硅片测试报告范围标准标准:

GB/T29055-2019太阳能电池用多晶硅片

GB/T26068-2018硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法

GB/T37051-2018太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

GB/T32814-2016硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范

GB/T24578-2015硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法

GB/T32280-2015硅片翘曲度测试自动非接触扫描法

GB/T32281-2015太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法

GB/T30859-2014太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法

GB/T30860-2014太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法

GB/T30869-2014太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化 测试方法

GB/T30701-2014表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

GB/T29505-2013硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法

GB/T29507-2013硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法

GB/T6616-2009半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法

GB/T6617-2009硅片电阻率测定 扩展电阻探针法

GB/T6618-2009硅片厚度和总厚度变化测试方法

GB/T6619-2009硅片弯曲度测试方法

具体的检测标准请咨询百检客服

检测检测特点:

1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;

2、实验室全覆盖,就近分配本地化检测;

3、工程师一对一服务,让检测更精准

4、免费初检,初检不收取检测费用

5、自助下单快递免费上门取样;

6、周期短,费用低,服务周到;

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;

8、检测报告权威有效、国内通用;

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