XRF测试

　　1、XRF的基本工作原理

　　X射线管产生入射X 射线(一次射线)，激发被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种元素的种类及含量。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为11号元素(钠Na)到92号元素(铀U)。咱们一般测O-U。

　　荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。

　　2、XRF样品要求以及报价

　　1. 固体粉末：干燥，成分均匀，粒度小于60um(过200目)，定性分析(压片法制样)需样品不少于2g，定量分析(熔融法制样)需样品不少于3g;

　　2. 块体及金属样品：需加工出一平整、光滑、成分均匀且无污染的表面，可放入直径32mm(测量面直径32mm)的圆柱状样品杯中，厚度小于20mm ;