透射电子显微镜样品形貌分析

　　高分辨透射电子显微镜样品形貌分析JEM2100F

　　1. 获得纳米材料，金属材料，陶瓷材料的微观形貌，孔隙情况，样品颗粒大小等;

　　2. 获得材料的高分辨数据，晶格条纹，获取晶体学参数;

　　3. 获得材料衍射花纹，判断材料晶体学参数;

　　4. 得到材料EDS信号，表征材料元素分布，半定量分析材料元素含量等，可进行面扫，点扫，线扫等方式;

　　高分辨透射电子显微镜样品形貌分析主要技术指标：

　　1、点分辨率：0.25nm;线分辨率：0.102nm;STEM分辨率：0.20nm

　　2、加速电压：80.100.152 0173 3840.200KV

　　3、倾斜角(X/Y)：±42/±30°;

　　4、配备德国Bruker公司XFlash 5030T型X射线能谱仪

　　应用范围：

　　1.应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析;

　　2.各种材料微区化学成分的定性和半定量检测;

　　3.粉末、纳米粒子形态和粒度测定;

　　4.复合材料界面特性的研究。