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低对比度细节探测检测

产品时间: 2022-08-08 13:01:03

简要描述:

服务详情 1、医用X射线诊断设备质量控制检测规范WS76-20209.6——伪影2、医用X射线诊断设备质量控制检测规范WS76-20209.8——低对比度细节探测3、医用X射线诊断设备质量控制检测规范...

详细介绍

服务详情



低对比度细节探测检测


1、医用X射线诊断设备质量控制检测规范 WS76-2020 9.6 —— 伪影

2、医用X射线诊断设备质量控制检测规范 WS76-2020 9.8 —— 低对比度细节探测

3、医用X射线诊断设备质量控制检测规范 WS76-2020 9.2 —— 信号传递特性(STP)

4、医用X射线诊断设备质量控制检测规范 WS76-2020 9.3 —— 响应均匀性

5、医用X射线诊断设备质量控制检测规范 WS76-2020 9.1 —— 探测器剂量指示(DDI)

6、医用X射线诊断设备质量控制检测规范 WS76-2020 9.7 —— *限空间分辨力

7、医用X射线诊断设备质量控制检测规范 WS76-2020 9.5 —— 残影

8、医用X射线诊断设备质量控制检测规范 WS76-2020 9.4 —— 测距误差

9、医用X射线诊断设备质量控制检测规范 WS76-2020 7.8 —— 自动曝光控制(AEC)性能

10、医用X射线诊断设备质量控制检测规范 —— 信号传递特性(STP)


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